[Arduino] ICT testeur de circuits intégrés

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Gege34
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Re: [Arduino] ICT testeur de circuits intégrés

Message par Gege34 »

Commodore (64/128/Amiga), HP (28/41/48/50/71/75/200/Prime) et autres (Ti, Canon X07, Psion, Casio, Palm, Thomson, Exl, Amstrad)
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Sorcerer
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Re: [Arduino] ICT testeur de circuits intégrés

Message par Sorcerer »

Hello ...
@Gege34
Ben oui, en principe Google est mon ami ... Mais sur ce coup-là, c'est Patrick qui a
été mon ami et m'a dépanné :)
@Seb_A2
J'ai pas de 74LS51 sous la main pour tester, mais si tu veux essayer :

Code : Tout sélectionner

$74LS51
2-wide 2-input and 2-wide 3-input AND-NOR gates
14
111XXLGLXXX11V
XXX11LGL111XXV
000XXHGHXXX00V
001XXHGHXXX01V
001XXHGHXXX10V
001XXHGHXXX11V
110XXHGHXXX00V
1XXXXHGHXXX01V
1XXXXHGHXXX10V
XXX00HGH000XXV
XXX01HGH001XXV
XXX10HGH010XXV
XXXXXXGH011XXV
XXXXXXGH100XXV
XXXXXXGH101XXV
XXXXXXGH110XXV
ça me parait plus cohérent avec la table de vérité.
Amitiés
Serge
Dernière modification par Sorcerer le 04 mai 2021 11:29, modifié 1 fois.
humeur
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Re: [Arduino] ICT testeur de circuits intégrés

Message par humeur »

il est special ce circuit puisque l'on demande de ne pas connecter les pattes 11 et 12 data book Texas Instruments.

Attention à ton 7451 c'est un 74LS51 un 7451 un 74H51 ou un 74L51 aussi 74S51 le brochage n'est pas le même du tout.

sinon j'ai y= (ab)+(cd) tout ça barre

j'ai pas la table juste équation.

jl
Recherche Tout sur le TI99/4a que ce soit materiel Texas ou Atronic, Mechatronic, Vidéopac, victor hector
figurine Kinder
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hlide
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Re: [Arduino] ICT testeur de circuits intégrés

Message par hlide »

La table d'équation est donnée par ta formule :

Code : Tout sélectionner

a|b|c|d|y
-+-+-+-+-
0|0|0|0|1
0|0|0|1|1
0|0|1|0|1
0|0|1|1|0
0|1|0|0|1
0|1|0|1|1
0|1|1|0|1
0|1|1|1|0
1|0|0|0|1
1|0|0|1|1
1|0|1|0|1
1|0|1|1|0
1|1|0|0|0
1|1|0|1|0
1|1|1|0|0
1|1|1|1|0
EDITION : j'avais oublié d'appliqué la barre.
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Sorcerer
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Re: [Arduino] ICT testeur de circuits intégrés

Message par Sorcerer »

Bonjour ...

Les tables que j'ai sont un peu plus complexes :
Le circuit est composé de 2 sections, une avec 4 entrées et une
avec 6 entrées.
Pour la section avec 4 entrées la formule est effectivement Y= (AB)+(CD) tout barré.
La table de vérité donnée pour la partie 4 entrées :
Inputs Output
A2 B2 C2 D2 Y2
H H X X L
X X H H L
Other combinations H

Ce qui montre déjà que toutes les tables qui ne comportent pas de X sont sujettes à caution
(sauf à énumérer toutes les possibilités).

La même chose avec la section à 6 entrées avec la formule :
Y= (ABC)+(DEF) tout barré.

Et après m'être penché sur les différents boîtiers, ma définition n'est valable que pour les 74LS51 en boîtier plastique.
(heureusement les plus courants). Et je corrige donc ma définition.

Les boîtiers avec des broches NU sont heureusement des boîtiers exotiques (céramique par exemple).
(SN5451 boîtier J ou bien SN5451 boîtier W).

Amitiés
Serge
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gilles
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Re: [Arduino] ICT testeur de circuits intégrés

Message par gilles »

Premiers tests de mon côté.
Pas de gros soucis à la compilation / installation (je n'ai juste pas commandé le bon modèle d'écran initialement, c'est maintenant corrigé).
Par contre lors de l'utilisation du clavier virtuel avec le tactile il y a un effet de rebond. Je regarderai comment éliminer ce souci, sans doute en interdisant toute autre frappe clavier pendant un laps de temps correct (0,2 ou 0,3sec).

Coté composants, j'ai surtout testé de la DRAM.
la 4116 est correctement détectée, ça semble fiable et reproductible.
Mes 4164 par contre ont un résultat plus aléatoire. Je vais revérifier sur une machine pour confirmer mais le test n'a pas l'air reproductible. (référence Fujitsu MB8265-15)

J'ai également testé quelques logiques, rien à signaler pour le moment.

Comme amélioration il serait utile de pouvoir stopper un test en cours à partir du tactile, ça rendrait la navigation beaucoup plus fluide.
Patrick
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Re: [Arduino] ICT testeur de circuits intégrés

Message par Patrick »

Gilles,
Merci pour ton retour.

Je pense que le problème de rebond est dû principalement à l'imprécision du tactile et à la résolution sommes toute assez basse de l'écran.
Augmenter la valeur de NUMSAMPLES dans le fichier TouchScreen.cpp améliore la précision.
J'avoue ne pas avoir prêté beaucoup attention au debounce.

Je n'ai pas de problème particulier avec les 4164. Personnellement, j'ai testé des KM4164.
Je vois que la MB8265-15 comporte une broche /RFSH que je ne gère pas. Est-ce la raison de ce que tu observes ?

L'interruption par appui sur le bouton utilisateur est prévu à terme. Pour l'instant, je m'en sers pour faire des captures d'écran.
Patrick
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Sorcerer
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Re: [Arduino] ICT testeur de circuits intégrés

Message par Sorcerer »

Bonjour à tous ...

@Gilles
Je confirme les dires de Patrick. La valeur de NUMSAMPLES est de 2 dans la librairie;
si tu remplaces par NUMSAMPLES=8 tu annules pratiquement totalement les rebonds
sans aucune perte de réactivité par ailleurs.

@Patick
Te serait-il possible de faire un topo sur le fonctionnement des vecteurs pour le test
des mémoires car dans le fichier memory.ict, je n'ai vu que des énumérations de PINs
et leur affectation. J'avoue que je n'ai pas trop compris.
Ca fonctionne comment?.

Merci d'avance.
Amitiés.
Serge
Falkayn
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Re: [Arduino] ICT testeur de circuits intégrés

Message par Falkayn »

Bonjour,

Je cherche a tester des ram 4408.

Je vois qu'elle ne sont pas implémenter dans la version 2.3

Comme il s'agit d'une version très proche de la 4416 en 2x moins de ram. En étudiant les 4416 & 4464. Je suppose qu'il suffit de modifier légèrement les références :
Je suis a peu près certain de tous sauf de la ligne "C"

Code : Tout sélectionner

$4408

8192 x 4 dynamic random-access memory
18
DRAM
RAS 5
CAS 16
WE 4
OE 1
GND 18
VCC 9
R 14 13 12 11 8 7 6 10
----- C 13 12 11 8 7 6 -----
D 2 3 15 17
Q 2 3 15 17


$4416
$MB81416
16384 x 4 dynamic random-access memory
18
DRAM
RAS 5
CAS 16
WE 4
OE 1
GND 18
VCC 9
R 14 13 12 11 8 7 6 10
C 13 12 11 8 7 6
D 2 3 15 17
Q 2 3 15 17
Recherche : National JR-800 - Husky fc486 - TO16
Echange : Mac Plus&Classic - Sharp ...
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gilles
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Re: [Arduino] ICT testeur de circuits intégrés

Message par gilles »

@sorcerer; je testerai avec numsamples, mais d'un point de vue UI c'est un contournement qui dépend du matériel alors qu'une notion de blocage de repeat sur timer est plus générique et justement élimine les différences de matériel et/ou de techno d'écran. (bref, je testerai à ma sauce ;) )
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Sorcerer
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Re: [Arduino] ICT testeur de circuits intégrés

Message par Sorcerer »

@Gilles,

Je suis bien d'accord avec toi, en plus c'est pas idéal de bidouiller dans une bibliothèque installée,
mais là, ça permet de s'affranchir de ces rebonds pénibles sans avoir à intervenir dans le code
pour traiter le debounce.
Patrick
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Re: [Arduino] ICT testeur de circuits intégrés

Message par Patrick »

Sorcerer,
En attendant une page sur le wiki, ce message présente la définition d'une RAM. A cela, il faut ajouter les bus H et L pour les signaux respectivement toujours à l'état haut et toujours à l'état bas.

Gilles,
Sauf que NUMSAMPLES est expressément prévu pour cet usage.

Falkayn,
Les 4408 sont des 4416 dont un des 2 blocs de cellules et défectueux.
A7, broche 10, détermine l'adresse du bloc fonctionnel. De ce fait, la variante 4408NLT est utilisée avec A7 toujours à GND et la variante 4408NLB est utilisée avec A7 toujours à VCC.
Tu peux essayer les définitions suivantes :

Code : Tout sélectionner

$4408NLT
8K x 4 dynamic random-access memory
18
DRAM
RAS 5
CAS 16
WE 4
OE 1
GND 18
VCC 9
L 10
R 14 13 12 11 8 7 6
C 13 12 11 8 7 6
D 2 3 15 17
Q 2 3 15 17
$4408NLB
8K x 4 dynamic random-access memory
18
DRAM
RAS 5
CAS 16
WE 4
OE 1
GND 18
VCC 9
H 10
R 14 13 12 11 8 7 6
C 13 12 11 8 7 6
D 2 3 15 17
Q 2 3 15 17
Patrick
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gilles
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Re: [Arduino] ICT testeur de circuits intégrés

Message par gilles »

J'ai un peu regardé dans le code et il y a déjà un debounce mais qui ne s'applique pas au clavier (juste aux boutons).

j'ai donc ajouté ça dans loop() :
case state_keyboard:
if (keyboard.read(worker.x, worker.y, touched)) {
if (worker.code.length() < INPUT_LENGTH) {
worker.code += keyboard.key();
}
tft.setCursor(INPUT_X, INPUT_Y);
tft.setTextColor(COLOR_TEXT, COLOR_BACKGROUND);
tft.setTextSize(INPUT_SIZE);
tft.print(worker.code);
// UI debounce
delay(100);

}

et pour moi ça marche plutôt bien
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gilles
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Re: [Arduino] ICT testeur de circuits intégrés

Message par gilles »

Une évolution qui serait pas mal aussi (pour plus tard), serait de pouvoir faire passer l'interface en mode "mass storage" pour pouvoir lire/écrire sur la SD directement en branchant le testeur par USB sur un PC.
Patrick
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Re: [Arduino] ICT testeur de circuits intégrés

Message par Patrick »

Gilles,
L'ajout du debounce à cet endroit peut être intéressant.
Par contre, je ne suis pas certain que l'Arduino Mega puisse être utilisé en USB Mass Storage device.
Je suis même quasiment certain du contraire.

Falkayn,
Des nouvelles des 4408 ?
Patrick
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